2024

• Celine Wassenberg, Präparation und Charakterisierung von Antimon-Monolagen auf Au(111)

2021

• Lisa Schlücking, Winkelaufgelöste Valenzbandspektroskopie an niedrigdimensionalen Schichtsystemen
• Moritz Petrolle, Oberflächenanalyse von Silbereinkristallen mittels AFM

2020

• Julia Jacob, Analyse von Kristallsystemen mittels Elektronen - Rückstreu - Diffraktion

2019

• Anneke Reinold, Präparation und Untersuchung dünner Kohlenstoffschichten auf Silizium
• Simon Schulte, Schichtdickenbestimmung von epitaktisch gewachsenem Graphen auf SiC mittels XPS
• Stefanie Hilgers, Oberflächencharakterisierung von Einkristallen mit LEED, AES und STM

2018

• Adrian Wittrock, Schichtdickenbestimmung von Koffein mit einer Quarzwaage
• Fabiola Schulte, Untersuchung der Topographie von Metall-interkaliertem Graphen auf Silizium carbid mittels Rasterkraftmikroskopie
• Julian Hochhaus, Automatisierung der Präparation von Einkristallen
• Robert Appel, Präparation und Charakterisierung von 4H-SiC(0001)-Oberflächen zur Optimierung der Graphenpräparation durch epitaktisches Wachstum
• Thomas Honermann, Demonstrationsaufbau und Funktion eines Atom-Kraft-Mikroskops

2016

• Claus Maximilian Bäcker, Kalibrierung eines Pyrometers an der XPS-Messkammer
• Phillippe Poulet, Präparation eines Ag(110) Kristalls
• Lukas Kesper, Präparation eines Dreischichtsystems aus MgO/Co/GaAs(001)
• Kevin Foryt, Präparation eines Ag(111) Kristalls

2015

• Robert Rauter, Kalibrierung des LEED-Systems an der XPS Kammer

2014

• Madeline Evers, Sonnenwinde, das Erdmagnetfeld und das Schutzpotential erdverlegter Rohrleitungen
• Florian Brauers, Ausheizprotokolle und Massenspektrometrie an einer STM-Kammer
• Stella Maria Aretz, Aufbau einer Helmholtz-Spule zur Kompensation des Erdmagnetfeldes
• Felix Fobbe, Reflexionsmessungen an Graphen-Siliziumcarbidsystemen mit Synchrotronstrahlung
• Benedikt Büsing, Entwicklung von Methoden zur Untersuchung der zeitlichen Stabilität der U55-Beamline an DELTA
• Laura Kodytek, Adsorbat-induzierte Rekonstruktion von Schwefel auf Cu(111)
• Tobias Rühling, Präparation von Dimethyldisulfid auf Au(111)
• Martin Bergen, Kalibrieren eines Verdampfers mittels Quarzwaage
• Steffen Bornemann, Theorie der Visualisierung von stehenden Wellen durch Schall nach Kundt & Rubens
• Karim Shamout, Kalibrierung eines LEED-Systems an Cu
• Lena Linhoff, Reinigung eines Cu-Kristalls
• Dennis Epp, Reinigen und Identifizieren eines unbekannten Kristalls
• Laura Stevens, Herstellung von STM-Spitzen mittels elektrochemischen Ätzens
• Marie Schmitz, Aufbau und Justage einer Sputter Gun zur Oberflächenpräparation
• Christopher Kohlmann, Gaußverbreiterung von XPS Signalen
• Hannes Goldmann, Schichtdickenbestimmung aus XPS Spektren
• Nico König, Schichtdickenbestimmung aus Photoelektronenbeugungsmustern
• Ismail Baltaci, Ausheizen und Massenspektrometrie and einer XPS-Kammer
• Malte G. H. Schulte, Ausheizverhalten und Masssenspektrometrie an einem Monochromator-Tank
• Marc Bürger, Entwicklung sphärischer Muster nach Kugelflächenfunktionen

2013

• Andreas Guhn, Weiterentwicklung der computergestützten Auswertung von experimentellen Mustern der Photoelektronenbeugung
• Moritz Meuren, Charakterisierung von Si-Oberflächen verschiedener Orientierungen mit dem Rastertunnelmikroskop
• Harry Ritter, Temperaturabhängige Ausbildung von Graphen auf Siliziumcarbid
• Cornelis Hilscher, Charakterisierung von Graphen auf SiC(0001)-6H mittels LEED
• Anja Külpmann, Untersuchung von GaAs(001)-Oberflächenrekonstruktionen mittels LEED
• Peter Roese, Korngrößenbestimmung von Mehrphasenstählen mittels Photoemissions-Elektronenmikroskopie
• Linda Madalaye, Entwicklung eines Kompositsystems zur Bearbeitung von Photoelektronenbeugungsmustern
• Eugenie Diemke, Energiekalibrierung an den soft X-ray beamlines von DELTA

2012

• Jan Philipp Köhle, Inbetriebnahme und Charakterisierung einer Flood-Gun zur Photoelektronenspektroskopie an Isolatoren
• Philipp Espeter, Photoemissions-Elektronenmikroskopie an applizierten Titanpartikeln

2011

• Lothar Brosda, Inbetriebnahme und Charakterisierung einer Quarzkristallmikrowaage zur Herstellung ultra-dünner Filme