Durch verschiedene Präparationsmethoden stellen wir sowohl niederdimensionale Strukturen, wie auch Schichtsysteme her. Ihre elektronischen und chemischen Eigenschaften und ihre Struktur sind sensitiv auf kleinste Veränderungen beispielsweise der Schichtdicke, welche wir bis zu einem Bruchteil einer atomaren Lage genau kontrollieren können.

Zur Untersuchung verwenden wir verschiedene Methoden. An dem universitätseigenen 1,5 GeV-Elektronenspeicherring DELTA nutzen wir eine eigene Strahllinie und die anschließende UHV-Experimentierkammer für XPS- und XPD-Messungen mit weicher Röntgenstrahlung. Neben der hochintensiven monochromatisierten Undulatorstrahlung stehen ebenfalls eine Heliumlampe und eine Röntgenröhre zur Verfügung. Desweiteren nutzen wir Rastertunnel- und -kraftmikroskopie bei Raum- und Tieftemperatur, sowie niederenergetische Elektronenbeugung zur Strukturaufklärung.