Lukas Kesper On the structural evolution towards germanene: a photoemission study of the structural formation of a 2D material at the surface and interface DOI: 10.17877/de290r-22997
Marie Schmitz XPS and XPD investigations of low-dimensional silicon-based surface-structures DOI: 10.17877/de290r-22615
Ismail Baltaci Strukturanalyse von Theobromin Molekülen auf verschiedenen Oberflächen: eine STM und LEED Studie DOI: 10.17877/de290r-22360
Malte Schulte Structural analysis of 1,3,7-trimethylxanthine formations on Au(111) DOI: 10.17877/de290r-22368
2019
Richard Hönig Photoemission microscopy and spectroscopy of cobalt-intercalated graphene on silicon carbide DOI: 10.17877/de290r-20286
2018
Peter Roese Strukturbestimmung einer niedrig-dimensionalen Siliziumstruktur auf einer Au(110)-Oberfläche mittels Photoelektronenspektroskopie und Photoelektronenbeugung DOI: 10.17877/de290r-19880
Karim Shamout MgO/Co/GaAs(001) - an interface analysis by means of XPS and XPD DOI: 10.17877/de290r-19827
2017
Philipp Espeter Structure determination of silicon nano-ribbons by means of photoelectron spectroscopy and photoelectron diffraction DOI: 10.17877/de290r-18784
2015
Dominique Krull geb. Handschak Determination of the interface structures of the multilayer system MgO/Fe/GaAs(001) - An x-ray photoelectron spectroscopy and diffraction study DOI: 10.17877/DE290R-7247
Christoph Keutner Der direkte Blick auf die Magnetosomen-Kette: PEEM- und SEM-Untersuchungen am intakten Magnetospirillum magnetotacticum DOI: 10.17877/DE290R-16318
Tobias Lühr Elektronenholographie zur dreidimensionalen Abbildung von Atomstrukturen DOI: 10.17877/DE290R-16281
2013
Frank Schönbohm Temperaturverhalten und Strukturbestimmung dünner Metalloxidschichten auf Siliziumoberflächen DOI: 10.17877/DE290R-13293
Patrick Dennis Mehring SAMs organischer Halbleiter auf Au-Substraten - Eine STM-Untersuchung DOI: 10.17877/DE290R-10761
2011
Sven Döhring Photoemissionsspektroskopie mit Anregung durch stehende Röntgenwellen an der MgO/Fe Grenzschicht DOI: 10.17877/DE290R-8734
2010
Daniel Christoph Weier Interface investigation between hydrocarbon and hydrocarbon-like molecules on semiconductors surfaces DOI: 10.17877/DE290R-12951
2008
Christian Rolf Flüchter Structural Analysis of HfO2 and HfSi2 ultra-thin films on Si(100): A photoelectron diffraction study DOI: 10.17877/DE290R-958
2005
Mark Schürmann Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung DOI: 10.17877/DE290R-74
Ulf Berges Hochauflösende optische Strahldiagnose mittels Synchrotronstrahlung am Beispiel der Synchrotronstrahlungsquelle DELTA DOI: 10.17877/DE290R-622